Capabilité des moyens de contrôle (CMC) & Maîtrise statistique des processus (MSP/SPC)

Que ce soit en conception, en développement, en production ou en maintenance, les méthodes statistiques entrent dans un processus d’amélioration permanente de la qualité des équipements électroniques, des gains en productivité et de la performance industrielle.

En développement ou en production, vous devez prendre des décisions à partir d’informations incomplètes. Tous les grands donneurs d’ordres exigent de leurs coopérants la preuve que leurs processus sont maîtrisés et qu’ils disposent des données pour l’établir.

La maîtrise statistique des processus (MSP) est le seul moyen scientifique de maîtriser les processus de TOUTE NATURE, sur des bases objectives, sans s’en remettre à la chance et, en tous cas, en mesurant exactement le risque associé à un choix.

De même, vous êtes conduit à faire des expériences pour rechercher l’influence des différents paramètres sur les performances techniques d’un produit et/ou sur le résultat attendu (par exemple sur le rendement du produit). Les expériences risquent de devenir très lourdes et très coûteuses dès que le nombre de paramètres à étudier dépasse 3 ou 4.

Public concerné : Les Directeurs et Responsables techniques, des bureaux d’études et des méthodes, les responsables de fabrication et des services qualité. Tous les chefs de projet produits, les chefs de projet industriels, les ingénieurs et techniciens concepteurs de produits, processus ou de maintenance. Les ingénieurs et techniciens chargés d’études de sûreté de fonctionnement, de qualification produits.

Objectifs :

• Savoir évaluer et interpréter l’aptitude d’un moyen de contrôle ou de mesure
• Identifier et mettre en œuvre les différentes étapes d’une démarche SPC (MSP)

Prérequis : Des notions de base en statistiques (histogramme, connaissance des bases du calcul statistique : moyenne, écart-type,…) est souhaitée mais non indispensable.

Méthodes pédagogiques mobilisées : Chaque dossier précise les moyens & outils pédagogiques mobilisés pour assurer l’acquisition des connaissances par les participants (exercices d’applications, cas pratiques, manipulation de softs, QCM, illustrations de propos sur des matériels mis à disposition,…)

1ère Partie

I- Introduction

• Définition
• Différence entre la qualité d’un produit et la qualité associée à une caractéristique élémentaire

II- Principes & Objectif cible

III- Principe de la combinatoire des caractéristiques

IV- Les causes de variabilité d’un processus

• Notion de variabilité d’un processus (dispersion et quelques exemples)
• Analyse de la forme de la dispersion
• Test de normalité d’une distribution en utilisant MINITAB
• Analyse des 6M responsables de la non-qualité (Machine, Milieu ″environnement″, Matière, Méthode, Main d’œuvre, Moyen de mesure) | Exemples
• Les causes communes et spéciales
• Classement des causes spéciales en 2 catégories

V- Analyse statistique des données

• Distinction entre deux termes fondamentaux ″Population et Echantillon″
• Collecte des données
• Les caractéristiques statistiques d’un échantillon ou d’une population

2ème partie

I-L’évaluation de l’aptitude des procédés par les capabilités

• Notion de Capabilité
• Formules de calcul de capabilités
• Le procédé est-il CAPABLE ?
• Relation entre la capabilité et le rendement

II-La capabilité des moyens de contrôle ou de l’instrument de mesure

• Définition et objectif
• Méthode R&R (Répétabilité, Reproductibilté)
• Décision d’acceptation ou de refus
• Influence du CMC sur la capabilité procédé Cp
• Méthode R&R rapide avec un exemple
• Méthode R&R complète
  • Mise en œuvre pratique de l’évaluation de R&R (répétabilité et reproductibilité)
  • Validité des mesures réalisées
  • Analyse de la Répétabilité & Reproductibilité
  • Dispersion de l’instrument de mesure et interprétation des résultats
  • Comment doit-on réagir en cas de mauvais CMC ? (les règles à respecter)

3ème partie

I-Le suivi de la variabilité et le pilotage par les cartes de contrôle aux mesures et aux attributs

• Objectif et principe des cartes de contrôle des moyennes et étendues ou écart-types
• Calcul de limites naturelles d’un procédé ou limites de contrôle
• Les règles de pilotage par les limites de contrôle et les décisions à prendre en cas de dérive (lorsqu’on constate un point hors contrôle)

II- Les différents types de cartes de contrôle (avec calcul des limites de contrôle)

III- Analyse Off Line et traitement statistique des données disponibles

• Interprétation et analyse des performances (capabilités) de chaque carte de contrôle suivie
• Identification de la ou des causes de variation des paramètres lorsque les capabilités démontrées sont insuffisantes  & Proposition des actions d’amélioration
• Décision à prendre sur les paramètres maitrisés (réduction de la fréquence d’échantillonnage ou arrêt de suivi du paramètre)

Tarif (2024) module Capabilité des moyens de contrôle & Maîtrise statitique des processus, 2 jours : 1520 euros HT

Tarif (2024) module Plan d’expérience & Méthode Taguchi, 2 jours : 1520 euros HT

Tarif (2024) session complète, 4 jours : 2820 euros HT

• Les frais d’inscription comprennent les déjeuners, les pauses, la documentation.
• Une remise est accordée dès la 2ème inscription pour la même société (nous consulter).

Conditions d’inscription : Le dossier complet, y compris le bulletin d’inscription, est disponible sur simple demande (sans engagement) :

• sur la page de téléchargement du dossier en cochant la formation souhaitée
• par tél au 04 91 95 55 70
• par mail à formation@framatech.fr

Un dossier de participant, contenant les informations pratiques, le plan d’accès, les possibilités d’hébergement, vous sera transmis dès réception de la convention de formation retournée signée.

Toutes nos formations sont éligibles au titre de la formation professionnelle.

• Renseignez-vous auprès de votre OPCO (Opérateur de compétences)

Organisme de formation agréé n° 93 131336313

Certifié QUALIOPI

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